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超快电子显微镜

透射电子显微镜（TEM）是最强大的成像技术之一，能够在原子尺度对三维（3D）结构进行成像。然而，TEM 的时间分辨率通常受限于成像设备的记录速率。因此，为了突破这一限制，可采用脉冲激光源来触发光发射，进而获得更高的时间分辨率。

超快电子显微镜（UEM 或 UTEM）本质上是一种泵浦 – 探测技术：超快激光泵浦脉冲激发材料，而延迟的探测电子脉冲则在与泵浦脉冲相关的特定时间点探测材料的响应。相应地，其时间分辨率不再受电子探测器速度的限制，而是由泵浦激光脉冲的持续时间和探测电子脉冲共同决定。因此，短电子脉冲的生成也极为重要，这通常通过同一超快激光器基频的二次或三次谐波来实现。此外，UEM 要求激光器输出具有高脉冲重复频率和高输出稳定性，以保证高信噪比（SNR）。

CARBIDE 和 PHAROS 激光器具有飞秒脉冲持续时间、高重复频率和高输出稳定性，是超快电子显微镜的理想光源，这也使得超快电子显微镜成为一项极具前景的超快技术。

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