. HARPIA泵浦-探测光谱仪.

泵浦探测光谱仪成品

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特征

  • 操作简单直观
  • 充足的采样空间,适合低温恒温器或流动系统
  • 全面控制偏振、强度、延迟和波长

概述

瞬态吸收光谱仪HARPIA可以配合PHAROS / ORPHEUS或Ti:Saph/TOPAS激光系统使用。拥有市场领先的特性,如10-5可分辨信号以及其他独特功能(如配合PHAROS/ORPHEUS系统使用时可在高重复频率(高达1 MHz)下工作)。高重复频率允许测量瞬态吸收动力学,同时以极低的脉冲能量激发样品(从而避免能量转移系统中的激子淬灭效应,或半导体/纳米颗粒样品中的非线性载体复合)。

还有很多探测配置和检测选项,从用于单波长检测的简单且有成本效益的光电二极管,到结合白光连续谱探测的光谱分辨宽带检测。此外,可以选择不同的延迟线,覆盖从1.7ns(标准)到7.5ns的延迟窗口。

HARPIA包括一台PC,预装了基于National InstrumentsLabView®的测量自动化软,可以实现完全可控、可定制和自动化的泵浦探测。NI LabView软件拥有极强的灵活性,允许用户轻松定制软件,满足特定测量的需要。预设或自定义延迟时间,只需轻点鼠标,就可以获得每个瞬态谱的平均数和其他选项。

除实验自动化软件外,HARPIA还包括数据分析软件CarpetView,用于检查采集的数据、执行全局和目标分析、探测色散补偿、指数拟合等。软件拥有直观、人性化的界面;附带一个数据分析教程,可以从原始数据无缝过渡到可供发布的图形和基于模型的参量估计。所有的软件均在微软Windows下运行,易于使用。即使是新手,也能在几天时间内能成为一名分析专家!

泵浦-探测规格
参数
光学元件支持的探测波长范围 240 – 2600 nm
探测波长范围
(通过1030nm泵浦的白光超连续谱发生器)
480 – 1100 nm
探测波长范围
(通过800nm泵浦的白光超连续谱发生器)
350 – 980 nm
探测器探测波长范围 200 nm – 1100 nm, 700 nm – 1800 nm, 1.2 mm – 2.6 mm, 200 – 1100 nm
光谱设备的频谱范围 180 nm – 24 mm, 可利用可互换光栅实现
延迟范围 1.7 ns, 3.8 ns, 7.8 ns
延迟分辨率 16.67 fs,33.3 fs,6.67 fs
噪声级 - 单波长 1) <10-5 (假设每点平均2秒)
噪声级 - 多通道检测 2) <2×10-5(假设每个光谱平均5秒)
激光器重复频率 1 - 100 kHz(数字转换器频率<2 kHz)
时间分辨率 <1.4 倍泵或探测脉冲持续时间(以较长者为准)
重量 光度头:约100 kg(取决于所选件)电子元件:约50公斤。
  1. 1)测试条件:运行在80kHz的Pharos激光器,泵浦源:Orpheus @ 480nm;探测源1b,光谱装置3d,检测器2a-a。该值是在固定延迟时获得的100个测量点的标准偏差。不适用于任何激光系统或样品。
  2. 2)测试条件:运行在64kHz的激光激发器,泵浦源:Orpheus @ 480nm;探测源1b,光谱装置3d,探测器2b。该值是在固定延迟下获得的100个测量点的标准偏差,使用约550nm波长的信号计算。不适用于任何激光系统或样品,或白光超连续谱发生器覆盖的任何光谱范围。
尺寸
  • 光化学
  • 光生物学
  • 光物理
  • 材料科学
  • 半导体物理
  • 时间分辨光谱

产品列表

. HARPIA泵浦-探测光谱仪.